Rugosímetro Portátil SURFTEST SJ-500 Fuerza de medición 0,75 mN - 178-533-01A - Mitutoyo Tienda Oficial | Producto Original Rugosímetro Portátil SURFTEST SJ-500 Fuerza de medición 0,75 mN - 178-533-01A - Mitutoyo Tienda Oficial | Producto Original
Rugosímetro Portátil SURFTEST SJ-500 Fuerza de medición 0,75 mN - 178-533-01A - Mitutoyo Tienda Oficial | Producto Original

Rugosímetro Portátil SURFTEST SJ-500 Fuerza de medición 0,75 mN - 178-533-01A - Mitutoyo

SKU: 178-533-01A

Garantía
Producto original Mitutoyo
Accesorios incluidos
Patrón de rugosidad 178-601
Compra Segura
100% protegida
Sobre el producto

El Surftest SJ-500 Mitutoyo 178-533-01A es un rugosímetro compacto de alto rendimiento: portátil, con unidad principal de 2,7 kg, y capaz también de trabajar en banco. Mide en el eje X un recorrido de 50 mm, con rectitud de 0,2 µm/50 mm, y este código usa el detector de 0,75 mN.

La unidad de desplazamiento trae de serie la función DAT de nivelación digital (±1,5°), perilla de ajuste vertical y joystick que lleva el eje X hasta 20 mm/s. El detector gira 90° para medir en sentido axial, por ejemplo en cigüeñales.

Una pantalla LCD TFT a color de 7,5" con panel táctil e iconos deja clara la configuración de la medición. El procesador hace estadística de hasta 300 muestras: máximo, mínimo, media, desviación estándar, histograma y probabilidad de aceptación. Los datos quedan en la memoria interna, y la ranura para tarjeta CF amplía el almacenamiento. El detector de inductancia diferencial tiene punta cónica de 60° y radio de 2 µm y lee en los rangos de 800, 80 y 8 µm, con resolución de hasta 0,0001 µm. El 178-533-01A incluye el patrón de rugosidad 178-601 (Ra de cerca de 3 µm).

Resumen técnico
  • Eje X: 50 mm · Z: 800/80/8 µm
  • Rectitud 0,2 µm/50 mm
  • Portátil, 2,7 kg · DAT ±1,5°
  • Detector de 0,75 mN · pantalla de 7,5"

Aspectos destacados del producto

Lo que distingue al 178-533-01A en la serie SJ-500/SV-2100.

Portátil y de banco

Unidad principal de 2,7 kg.

Rectitud de 0,2 µm/50 mm

En el recorrido de 50 mm del eje X.

Función DAT

Nivelación de ±1,5°.

Detector de 0,75 mN

Punta cónica de 60° y radio de 2 µm.

Pantalla de 7,5" táctil

LCD TFT a color e iconos.

Estadística

Hasta 300 muestras.

Características principales

Lo que significa en la práctica cada dato del 178-533-01A.

  • 50 mm Eje X

    Rectitud de 0,2 µm/50 mm.

  • 800/80/8 µm Eje Z (detector)

    Resolución de hasta 0,0001 µm.

  • 0,75 mN Fuerza

    Punta cónica de 60° y radio de 2 µm.

  • DAT ±1,5° Nivelación

    Función de serie.

  • Pantalla de 7,5" Procesador

    Con impresora térmica.

¿Qué problemas resuelve?

Situaciones de medición en las que el 178-533-01A es la elección correcta.

Desafío Medir en la pieza y en el laboratorio

Un rugosímetro solo de banco no llega a la pieza.

Solución

El 178-533-01A es portátil y, con el soporte de columna opcional, también trabaja en banco.

Desafío Superficie en sentido axial

En cigüeñales, la superficie a medir queda cubierta para el trazado normal.

Solución

El detector del 178-533-01A gira 90° para medir en sentido axial.

Desafío Configurar sin manual en la mano

Las condiciones de medición en pantalla pequeña generan errores.

Solución

El 178-533-01A se configura en la pantalla de 7,5" táctil con iconos.

Desafío Control estadístico del lote

Juntar los resultados fuera del equipo retrasa el análisis.

Solución

El 178-533-01A hace la estadística de hasta 300 muestras en el propio procesador.

Información Técnica

Especificaciones, detalles de construcción, funciones, variantes de la serie y qué viene en la caja.

Especificaciones

  • Marca: Mitutoyo
  • Modelo: SJ-500 (0,75mN)
  • Serie: 178
  • Estándar: (Opcional)
  • Curso de medición/Eje Z1 (sensor): 800µm / 80µm / 8µm
  • Curso de medición/Eje X: 50mm
  • Rectitud: 0,2µm / 50mm
  • Resolución Eje X: 0,05µm
  • Resolución/Eje Z1 (sensor): 0,01µm (800µm), 0,001µm (80µm), 0,0001µm (8µm)
  • Velocidad de movimiento/Eje X: 0 a 20 mm/s o manual
  • Velocidad de medición: 0,02 - 5mm/s
  • Movimiento Vertical: 30mm
  • Medición de contorno: Paso (PROMEDIO, MÁX, MÍN), Círculo, Ángulo, Área, Diferencia de coordenadas, Inclinación
  • Gráficos: Porcentaje de material (BAC), Distribución de amplitud de altura (ADC), Gráfico de espectro de energía
  • Compensación de geometrías: Parábola, Hipérbola, Elipse, Círculo, Cono, Inclinación (general/arbitraria), Arco circular del palpador
  • Filtros: 2CR75, PC75, GAUSS, Spline
  • Valores de corte λs: 0,25, 0,8, 2,5, 8, 25, 80, 250µm, sem filtro
  • Valores de corte λc: 0,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8, 25, 80*2mm, sem filtro
  • Valores de corte λf: 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8, 25, 80*2mm, sem filtro
  • Largo de muestra: 0,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8, 25, 80*2mm, sem filtro
  • LCD: Pantalla táctil de 7,5" a color TFT con retroiluminación
  • Impresora incorporada: Impresora térmica de alta velocidad (Ancho del papel: 58 mm)
  • Ampliación/Vertical: 10X até 500,000X, Auto
  • Ampliación/Horizontal: 0,5X até 10,000X, Auto
  • Sensor/Método: Inductor diferencial
  • Sensor/Punta y Fuerza de medición: 0,75 mN punta cónica: ángulo de 60° y radio de 2 µm // 4 mN punta cónica: ángulo de 90° y radio de 5 µm
  • Alimentación: 100 - 120V AC ±10%, 50/60Hz
  • Consumo: 100 VA
  • Dimensiones/Unidad principal: 425×94 ×160mm
  • Dimensiones/Procesador: 330×270×124mm
  • Normas: JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA

Detalles técnicos

Recorrido del eje X
50 mm
Velocidad en el eje X
0 a 20 mm/s o manual
Nivelación
Función DAT de serie, ±1,5°
Medición axial
El detector gira 90°
Unidad principal
425 × 94 × 160 mm, 2,7 kg
Soportes de columna (opcionales)
178-085 (granito, ajuste de 300 mm) y 178-089 (simple, 250 mm)

Funciones

Funciones del 178-533-01A
Medición

Velocidad de 0,02 a 5 mm/s; filtros Gaussiano, 2CR75, PC75 y Spline robusto; longitud de muestreo de 0,025 a 80 mm.

Análisis de rugosidad

43 parámetros conforme a ISO 1997 y JIS 2001, con perfiles primario, de rugosidad, de ondulación y de motivo.

Análisis de contorno

Área, círculo, ángulo, diferencia de coordenadas, paso e inclinación.

Estadística

Hasta 300 muestras: máximo, mínimo, media, desviación estándar, histograma y probabilidad de aceptación.

Programas

Rastreo múltiple de hasta 3 trazados y 10 configuraciones guardadas.

Salida de datos

Impresora térmica incorporada, memoria interna, tarjeta CF y USB (cable 12AAH490 opcional) con programa gratuito de planilla.

Variantes de la serie

Surftest SJ-500 y SV-2100 con procesador dedicado disponibles en la tienda

Código Modelo Fuerza de medición Eje X · columna
178-533-01A (este) SJ-500 0,75 mN 50 mm
178-533-02A SJ-500 4 mN 50 mm
178-637-01A SV-2100M4 0,75 mN 100 mm · columna 350 mm
178-637-02 SV-2100M4 4 mN 100 mm · columna 350 mm
178-681-01 SV-2100S4 0,75 mN 100 mm · columna 350 mm
178-681-02 SV-2100S4 4 mN 100 mm · columna 350 mm
178-683-01 SV-2100H4 0,75 mN 100 mm · columna 550 mm
178-683-02 SV-2100H4 4 mN 100 mm · columna 550 mm
178-685-01 SV-2100W4 0,75 mN 100 mm · columna 550 mm
178-685-02 SV-2100W4 4 mN 100 mm · columna 550 mm

Artículos incluidos

  • Surftest SJ-500 178-533-01A con detector de 0,75 mN
  • Patrón de rugosidad 178-601 (Ra de cerca de 3 µm)

Preguntas y Respuestas

¿El 178-533-01A es portátil?

Sí. La unidad principal pesa 2,7 kg y mide 425 × 94 × 160 mm. Con el soporte de columna opcional (178-085 o 178-089), también trabaja en banco.

¿Cómo ayuda el 178-533-01A en la nivelación?

Con la función DAT de serie: la pantalla muestra el valor de ajuste, y la nivelación de ±1,5° se hace con la perilla de la unidad de desplazamiento.

¿Cuál es la fuerza de medición del 178-533-01A?

0,75 mN, con punta cónica de 60° y radio de 2 µm. El detector de reposición de esta fuerza es el 178-396-2.

¿Qué incluye el 178-533-01A?

El patrón de rugosidad 178-601 (Ra de cerca de 3 µm), accesorio estándar de la serie, usado en la calibración.

¿Dónde guarda los datos el 178-533-01A?

Los datos quedan en la memoria interna, y la ranura para tarjeta CF amplía el almacenamiento.

¿Cómo es la pantalla del 178-533-01A?

Una pantalla LCD TFT a color de 7,5" con panel táctil e iconos deja clara la configuración de la medición.

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